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原子間力顕微鏡(AFM)

ナノテックは、スイスCSM Instruments SA 社製の各種試験機の日本総代理店として試験機の販売・アフターサービス・受託測定を行っています。

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表面形状測定機

原子間力顕微鏡(AFM)

Atomic Force Microscope

原子間力顕微鏡

材料表面の形態や粗さを高分解能で解析、画像化することができます。

原子間力顕微鏡

オプション

非接触モード

水平力モード

パルスフォースモード

ソフトウェア

仕様

  Low Medium High
AFM方式
光干渉方式
標準測定モード
接触モード
X-Y 軸レンジ
20×20μm 40×40μm 80×80μm
Z 軸レンジ
3μm 4μm 6μm
※仕様は予告なしに変更される場合があります。
お問合せ先
  ナノテック株式会社 電話番号:04-7135-6111(代)