ナノテックは、スイスCSM Instruments SA 社製の各種試験機の日本総代理店として試験機の販売・アフターサービス・受託測定を行っています。
ナノインデンテーテョン法による薄膜の硬さ、ヤング率の測定を可能にした世界最高精度の試験機です。通常のNHTを超える高精度の荷重変位分解能と独自の測定方法の採用により、測定安定性に優れた試験機となっています。特にそのヘッド部をガラス製にし特別な基板を作成することで、温度ドリフトは1ppm/℃のレートにすることができます。
オプション
Sinusモード（20Hz）
原子間力顕微鏡（AFM）
三次元表面測定機（CON）
用途
硬質薄膜、セラミック薄膜、有機膜、バルク材などの材料の硬さ及びヤング率の測定
仕様
最大押し込み深さ |
10μm |
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変位分解能 |
0.0005nm |
使用可能圧子 |
ベルコビッチ、ビッカース、球 |
最大垂直荷重 |
25μN〜50mN（荷重分解能2.5nN） |
解析システム |
PCデータ収集解析システム |
※仕様は予告なしに変更される場合があります。 |
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