表面分析 受託分析
ナノテック社内にある表面分析センターの実験装置・評価試験機器を用いてお客様と共に実用を前提とした研究・試験を提供しています。
表面分析のご案内
表面の機械的物性評価は薄膜プロセスのキーポイントです。
ナノテックでは、豊富な経験と高い技術力により、お客様のニーズにあった分析サービスを提供します。機械的物性評価の分析サービスを是非一度ご利用下さい。
ナノテックでは、豊富な経験と高い技術力により、お客様のニーズにあった分析サービスを提供します。ナノテックの分析サービスを是非一度ご利用下さい。
機械的物性評価
スクラッチ試験による密着性、傷つき易さの評価
摩擦摩耗試験による摩擦係数、耐摩耗性の評価
ナノインデンテーション法による硬度、ヤング率の評価
カロテストによる簡易膜厚測定
レーザー顕微鏡による表面粗さ測定及び形状測定
元素分析・状態分析
RBS/HFSによる元素の定性・定量分析
ラマン分光による状態分析
XRRによる膜密度、膜厚測定
ご案内
ご依頼の流れ
Q&A
担当者からのメッセージ
機械的物性評価
摩擦摩耗試験 準拠工業規格:JIS R 1613,ASTM G99,ASTM G133
平面試料(材料・薄膜)の摩擦摩耗試験(水中・油中・各種雰囲気可能)
高温摩擦摩耗試験(~800℃)、超低荷重摩擦摩耗試験
試験測定例:
耐久寿命評価、摩擦摩耗試験
摩擦磨耗試験について
硬さ試験 準拠工業規格:ISO14577
超薄膜・表面の硬さ・ヤング率測定、CMC測定
試験測定例:
薄膜の評価、押し込み試験
硬さ試験について
元素分析・状態分析
RBS/HFSによる元素の定性・定量分析
RBS分析、HFS分析を行うことで、薄膜の深さ方向の組成を分析することができます。
RBS/HFSによる元素の定性・定量分析について
ラマン分光による状態分析
ラマン分光法による評価方法により結晶性などの構造を求めることができます。
ラマン分光による状態分析について
XRRによる膜密度、膜厚測定
XRR測定により、数nm~数百nmの薄膜の膜厚と密度を分析することができます。
XRRによる膜密度、膜厚測定について
膜厚測定 準拠工業規格:EN1071-2
銅球による研削痕の大きさを測定
膜厚測定について